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TableXAFS主要測(cè)量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化，廣泛應(yīng)用于診斷材料的局域特性，例如核心原子的價(jià)態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長(zhǎng)。

CT型真空紫外光譜儀具備較高的靈敏度和分辨率，能夠精確測(cè)量微弱的光譜信號(hào)，揭示物質(zhì)更細(xì)微的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)。其次，該儀器具備較寬的波長(zhǎng)覆蓋范圍，可以覆蓋從近紫外到真空紫外區(qū)域的多個(gè)波長(zhǎng)范圍，滿足各種研究需求...

真空紫外光譜儀采用Seya- Namioka光路結(jié)構(gòu)，入射狹縫和CCD探測(cè)器位于羅蘭圓上，可以單色模式和光譜模式切用 。

?分辨平場(chǎng)光譜儀，采?全息凹球?變線距光柵進(jìn)?分光，具有平場(chǎng)特性，便于使??陣CCD記錄光譜。光柵?作在掠?射模式下，衍射效率?，同時(shí)通過選?不同的光柵型號(hào)，可以實(shí)現(xiàn)波?范圍1~30nm的全覆蓋。

平場(chǎng)光譜儀，采用全息凹球面變線距光柵進(jìn)行分光，具有平場(chǎng)特性，便于使用面陣CCD記錄光譜。光柵工作在掠入射模式下，衍射效率高，同時(shí)通過選用不同的光柵型號(hào)，可以實(shí)現(xiàn)波長(zhǎng)范圍0.6~200nm的全覆蓋。

RapidXAFS主要測(cè)量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化，廣泛應(yīng)用于診斷材料的局域特性，例如核心原子的價(jià)態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長(zhǎng)。

原位X射線吸收光譜測(cè)試主要測(cè)量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化，廣泛應(yīng)用于診斷材料的局域特性，例如核心原子的價(jià)態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長(zhǎng)。

X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)（XAFS）譜儀X射線吸收光譜測(cè)試主要測(cè)量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化，廣泛應(yīng)用于診斷材料的局域特性，例如核心原子的價(jià)態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長(zhǎng)。

X射線吸收譜儀是一種利用同步輻射或?qū)嶒?yàn)室X射線源，通過測(cè)量材料對(duì)X射線的吸收特性來探測(cè)其原子尺度局域結(jié)構(gòu)及電子態(tài)的分析儀器。其核心技術(shù)包括X射線近邊吸收譜和擴(kuò)展邊精細(xì)結(jié)構(gòu)，可精準(zhǔn)解析目標(biāo)元素的化學(xué)價(jià)態(tài)...

X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)（XAFS）譜儀X射線吸收光譜測(cè)試主要測(cè)量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化，廣泛應(yīng)用于診斷材料的局域特性，例如核心原子的價(jià)態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長(zhǎng)。