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原位X射線吸收光譜

產品簡介

原位X射線吸收光譜通過在反應過程中實時監(jiān)測吸收邊的近邊（XANES）和擴展邊（EXAFS）信號，揭示材料在真實環(huán)境中的結構演化規(guī)律，為理解構效關系、優(yōu)化材料設計提供直接依據。

更新時間：2025-05-27
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品牌創(chuàng)譜specreation應用領域環(huán)保,化工,生物產業(yè),能源
　　原位X射線吸收光譜利用常規(guī)X光源實現X射線吸收精細結構(XAFS)的光譜測量，對同步輻射等重大科技基礎設施及電子顯微鏡、X射線衍射儀等科學儀器具有很好的補充和拓展作用。該產品目前已被北京大學、北京航空航天大學、天津大學、華北電力大學、青海大學、安徽大學等眾多高校選購，有效助力相關科學研究和應用開拓！
 
       小型化桌面式系統(tǒng)，易于使用：
 
　　· 支持近邊快掃功能；
 
　　· 支持原位測試等擴展功能；
 
　　· 人體工學高度設計，操作更便捷；
 
　　· 內置實驗參數預置，實現快速測量；
 
　　· 不同樣品、不同測量模式一鍵自動切換；
 
　　· 遠程數據傳輸，實時顯示實驗進程和結果支持無人值守測試；
 
　　· 專業(yè)的應用技術支持和數據分析支持；
 
　　· 儀器具有輻射豁免資質和多重安全防護聯鎖，保證人身和使用安全。
 
　　XAFS專用彎晶：
 
　　· 不同晶面配置齊全，實現各個元素覆蓋；
 
　　· 預準直安裝，即插即用；
 
　　· 可根據需要元素定制特殊彎晶，達到最佳性能。
 
　　X射線吸收精細結構（XAFS）譜儀X射線吸收光譜測試能量掃描機構：
 
　　· 聯動掃描機構；
 
　　· 實現光源、彎晶、樣品和探測器的精密聯動；
 
　　· 精度和分辨率高，穩(wěn)定性好。
 
 

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