臺式x射線吸收譜儀集成了緊湊型高亮度X射線源與高分辨率硅漂移探測器,將XAS實驗從大型同步輻射裝置“搬入”普通實驗室,實現(xiàn)了原位、快速、低成本的材料表征。
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X射線吸收精細結構(XAFS)譜儀同步輻射X射線吸收近邊結構主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化,廣泛應用于診斷材料的局域特性,例如核心原子的價態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長。
查看詳情擴展x射線吸收精細結構譜儀主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化,廣泛應用于診斷材料的局域特性,例如核心原子的價態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長。
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