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分析測試儀器
TableXAFS是一種實(shí)驗(yàn)室級小型化X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)分析設(shè)備,能夠在常規(guī)實(shí)驗(yàn)室內(nèi)完成材料的局域原子結(jié)構(gòu)表征,其核心特點(diǎn)是擺脫對同步輻射光源的依賴,通過緊湊設(shè)計(jì)和高性能組件集成,實(shí)現(xiàn)與大型同步輻射裝置類似的功能,但體積更小、成本更低、操作更靈活。
CT型真空紫外光譜儀具備較高的靈敏度和分辨率,能夠精確測量微弱的光譜信號,揭示物質(zhì)更細(xì)微的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)。其次,該儀器具備較寬的波長覆蓋范圍,可以覆蓋從近紫外到真空紫外區(qū)域的多個(gè)波長范圍,滿足各種研究需求。
真空紫外光譜儀采用Seya- Namioka光路結(jié)構(gòu),入射狹縫和CCD探測器位于羅蘭圓上,可以單色模式和光譜模式切用 。
RapidXAFS主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化,廣泛應(yīng)用于診斷材料的局域特性,例如核心原子的價(jià)態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長。
原位X射線吸收光譜通過在反應(yīng)過程中實(shí)時(shí)監(jiān)測吸收邊的近邊(XANES)和擴(kuò)展邊(EXAFS)信號,揭示材料在真實(shí)環(huán)境中的結(jié)構(gòu)演化規(guī)律,為理解構(gòu)效關(guān)系、優(yōu)化材料設(shè)計(jì)提供直接依據(jù)。
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